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半导体分离器件测试仪
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产品名称: 半导体分离器件测试仪
产品型号:
BJ2986
产品展商:
美达
产品文档:
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简单介绍
BJ2986 半导体分离器件测试仪对于功率晶体管，通常要通过对热阻、正偏二次击穿、维持参数的测试，来确定由*大允许电流ICM、集电极*大允许耗功率PCM、正偏二次击穿功率PSB和维持电压VCEO（SUS）组成的直流**工作区，对于**及高可靠功率晶体管，在完成上述工作后，按照国家标准及**标准的规定，还需加测标准所规定的直流脉冲及开关**工作区的各项参数.
半导体分离器件测试仪的详细介绍
BJ2986 半导体分离器件测试仪
BJ2986 半导体分离器件测试仪产品特点：
对于功率晶体管，通常要通过对热阻、正偏二次击穿、维持参数的测试，来确定由*大允许电流ICM、集电极*大允许耗功率PCM、正偏二次击穿功率PSB和维持电压VCEO（SUS）组成的直流**工作区，对于**及高可靠功率晶体管，在完成上述工作后，按照国家标准及**标准的规定，还需加测标准所规定的直流脉冲及开关**工作区的各项参数。例如在直流**工作区中要检测被测管工作时IC电流的变化率K及二次击穿特性；在脉冲**工作区要检测管的抗脉冲能力；在开关**工作区检测被测管在规定的电阻及电感负载在饱和与截止之间的抗开关能力。本仪器就是根据上述三种**工作区的检测要求而进行设计的，适用于对硅NPN型功率管进行测试。
BJ2986 半导体分离器件测试仪技术指标：
（1） 直流及脉冲**工作区：
测试功率：0~500W（RC压降=0时）
0~375W（RC压降=VCE时）
VCE数字表：0~200V
IC数字表：0~5.00A（2档）
K=IC2/IC1 数字表：0.500~1.500
脉宽τ：1mS~1S（4档） 脉宽扩展：τ×1、τ×2、τ×5
占空比δ 1：2~1：64（6档）
RC及RE：0.1Ω~4KΩ
（2） 开关**工作区：
VBB：0~6.00V； RBB：10 KΩ~1 KΩ（档）
RC：2Ω~1 KΩ（9档） LC：0.1mH~30 mH(11档，可串联使用)；
VCE：0~2000V IC：0~5A
