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晶体管测试仪
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产品简单介绍
元件参数分析仪
CS7600
CS7600系列元件参数分析仪是我国目前测量频带*宽(20Hz~2MHz)、频率分辨率*细(* 小1uHz)、基本测量精度*高(0.05%)的新型全数字元件参数分析仪器。广泛适用于各种LCR 元件的参数分析、中低频谐振器的精细频响分析、材料电阻抗特性分析等应用领域。CS7620以其 优越的测量性能与功能成为**可替代Agilent E4980A的国产测量仪器。
元件参数分析仪
CS7620
CS7620具有如下众多的优异性能: 高精度 基本测量精度:0.05% 具有开路/短路/负载校准功能 高速度 快速:25次/秒 (1pF在2MHz、1Vrms下测量) 中速:10次/秒 (1pF在2MHz、1Vrms下测量) 慢速: 5次/秒 (1pF在2MHz、1Vrms下测量)
照明专用测试仪
8793F
8793F照明专用测试仪可以组成一个完整的测试系统,也可以分别进行镇流器的输入和输出的测试。 适用于各种电子镇流器﹑卤钨灯﹑金属卤化物灯﹑高压钠灯等产品的大批量生产测试,质量分析。符合国标GB/T15144-1994的要求。
晶体管特性图示仪
HZ4832
HZ4832 晶体管特性图示仪 是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试 仪器。它功能强,操作方便,对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用,是必不可 少的测试工具。
晶体管特性图示仪
HZ4838
HZ4838 晶体管特性图示仪 是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试 仪器。它功能强,操作方便,对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用,是必不可少的测试工具。
智能化晶体管综合参数测试仪
BJ2923
BJ2923 智能化晶体管综合参数测试仪功能特点: 1。智能化自动测试。 2。自动校准,自动选择*佳量程。 3。测试前后管座自动断电。 4。带打印机接口,可打印测量条件及测量结果。 5。带RS-232接口,可以与其他微机联机使用。
智能化晶体管开关参数测试仪
BJ2961A
BJ2961A 智能化晶体管开关参数测试仪主要功能: 仪器主要测量测试中小功率半导体三极管开关参数, 功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。 Td 延迟时间 tr 被测晶体管上升时间 ton 晶体管开启时间
二极管反向恢复时间测试仪
BJ2962
BJ2962 二极管反向恢复时间测试仪主要参数 1。毫微秒信号发生器 (1)频率:20KHZ 误差:正负5% (2)脉宽:1.5uS 误差:正负10% (3)脉冲幅度:9.8~30V ,分8档,误差:正负5% (4)前沿<=10nS (5)输出阻抗:50欧姆 (6)过冲平坦度<=5%
三极管正偏二次击穿测试仪
BJ2983
BJ2983 三极管正偏二次击穿测试仪测量NPN型晶体管三极管在直流,连续脉冲或单脉冲电流正向偏置条件下的二次击穿特性,仪器的配套电源为本厂的WD-9型晶体管直流稳压电源。
三极管瞬态热阻测试仪
BJ2984
BJ2984 三极管瞬态热阻测试仪可对各种类型锗,硅PNP及NPN型三极管的瞬态热阻参数进行快速测量。
半导体分离器件测试仪
BJ2984A
BJ2984A 半导体分离器件测试仪可对各种类锗、硅晶体二极管的瞬态热阻进行快速测试。对以环境温度Ta为参考点不 带散热器作用的中、小功率晶体二极管可以直接测定其稳态热阻;对以壳温Tc为参考点带热器使用的大功率晶体二极管,当用户在自行给定的散热条件下测量出壳温度Tc数值后,亦可确定其稳态热阻。
半导体分离器件测试仪
BJ2986
BJ2986 半导体分离器件测试仪对于功率晶体管,通常要通过对热阻、正偏二次击穿、维持参数的测试,来确定由*大允许电流ICM、集电极*大允许耗功率PCM、正偏二次击穿功率PSB和维持电压VCEO(SUS)组成的直流**工作区,对于**及高可靠功率晶体管,在完成上述工作后,按照国家标准及**标准的规定,还需加测标准所规定的直流脉冲及开关**工作区的各项参数.
晶体管正偏二次击穿及瞬态热阻测试仪
BJ2988A
BJ2988A型晶体管正偏二次击穿及瞬态热阻测试仪可以同时进行瞬态热阻及正偏二次击穿的一次性检测。两种参数放在同一台仪器上检测是为了满足**功率晶体管实际检测的需要,是**功率晶体管*快速筛选测试及贯彻国军标所必需的测试仪器。这种参数测试仪不但解决了测试中的烧管问题,也可直接进行正偏二次击穿功率的检测。本仪器的配套电源为本厂生产的WD-9型晶体管稳压电源。
MOS场效应管测试仪
BJ2990
BJ2990 MOS场效应管测试仪 可测试N沟道及P沟道大功率MOS场效应管的VGS(th)、RDS(on)及ID为0—10A时的跨导gm等主要技术参数。
晶体管图示仪
BJ4814
BJ4814 半导体管特性图示仪 是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的独特优势,
半导体管特性图示仪
BJ4815
BJ4815半导体管特性图示仪是可以测量各种半导体管低频函数图形的通用仪器。可以同时测量两路信号,对两只被测三极管图形各自独立移动,以便进行测量比较。并设测量三端稳压集成稳压电路的专用测试台,可以对78系列及79系列的三端稳压电路在不同输入电压的情况下的输出电压曲线进行观测,并可观测加载后的曲线。
智能半导体图示仪
BJ4821
BJ4821智能半导体图示仪 引进计算机辅助测试技术,利用计算机将被测器件的特性线进行CRT显示,提供点标测试。 提供3000V/400A供电能力和高精度的测量 是以脉冲测试器件,不会使器件过热。
高精度晶体管特性图示仪
BJ4830
BJ4830 高精度晶体管特性图示仪详细介绍 集电极电源: 交流,+(NPN),-(NPN) 峰值电压:0-15V 0-75V 0-350V 0-1500V 峰值电流: 20A 4A 1A 0.2A 保护措施:注入被测管的峰值功率可限定在设定值以下,功率限额分为6档,*低 100mW,*高220W 备有温升保护和过载保护线路,并有高压闭锁装置。 阶梯波发生器:
晶体管反向截止电流测试仪
JS-2D
JS-2D晶体管反向截止电流测试仪,符合国家标准和IEC标准的规定。本仪器可测试NPN、PNP、微功耗、小、中、大功率晶体管ICEO、ICBO、IEBO、ICES、ICER、ICEX等反向截止电流,可供半导体器件生产厂、整机厂、科研单位、大专院校使用。
二极管反向漏电流测仪
JS-2G
二极管反向漏电流测仪,测试二极管及任何二端器件,分脉冲和直流二种方式,200V-1500V,0.1na-100uA
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