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集成电路测试仪
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产品名称: 集成电路测试仪
产品型号:
ICT33C+
产品展商:
美达
产品文档:
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简单介绍
ICT33C+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想,以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为核心,配合大规模软件和外围扩展系统来**模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则:在数字集成电路众多参数中,逻辑功能是*重要,*根本,*能说明问题的参数。
集成电路测试仪的详细介绍
ICT33C+ 集成电路测试仪产品特点:
1.工作原理:
ICT33C+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想,以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为核心,配合大规模软件和外围扩展系统来**模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则:在数字集成电路众多参数中,逻辑功能是*重要,*根本,*能说明问题的参数。
2.系统主要构成:
(1) CPU:MCS51系列产品89C52;主频:11.059M。
(2) 程序存储器:128K EPROM。
(3) RAM缓冲区:128K静态RAM。
(4) 显示器:8位液晶显示器。
(5) 操作键盘:20位轻触式按键键盘。
(6) 输出:七只LED+八位液晶显示+声音提示。
(7) 机箱:全塑结构机箱。
ICT33C+ 集成电路测试仪技术规格:
(1) 电源电压:AC220V±15%,50HZ。
(2) 整机功耗:15VA。
(3) 测试电压:3.3V,5.0V,9.0,15V。
(4) 编程电压:12.5V,21V。
(5) *大测试脚数:DIP封装40脚;SOP封装20脚(须另购适配器)。
(6) 型号输入位数:3——6位。
(7) 适用温度:0——40℃。
(8) 测试规范:输入短路测试;输出短路测试;100%功能测试。
(9) 输出高电平
VOH:大于2.8V
(VT=5.0V)。
(10)
输出低电平VOL:小于0.7V
(VT=5.0V)。
(11)
输入高电平VIH:大于4.5V
(VT=5.0V)。
(12)
输入低电平VIL:小于0.2V
(VT=5.0V)。
ICT33C+具有以下主要用途:
(1) 维修各类电子产品,判断其集成电路故障。
(2) 破译被抹去型号集成电路的真实型号。
(3) 烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
(4) 开发各类智能电子产品,调试程序。
(5) 检验新购器件的质量。