ICT4040P 集成电路检测仪产品特点：
◆先进的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好
◆友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家
◆无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修
◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库
◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能
◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较
◆与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便
◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试
◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试
技术规格：
ICT4040P/4080P/8080P 电路板故障检测仪
[ICT]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用，全部智能化。它利用电
脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的
情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检测到
电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。
产品特点：
◆先进的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好
◆友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家
◆无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修
◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库
◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能
◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较
◆与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便
◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试
◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试
全功能ASA+ICT测试器
ASA（Analong signature Analysis）对元件每个管脚提供一个**、低功率的扫描驱
动电压信号，以便产生一个阻抗性图并在CRT上显示、且可存储，以备比对。所有测试都是
在静态下（不加电）执行，所以不会伤害元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚
V/I曲线图形，并且对各类分立元件如：电阻、电容等同样有效。ICT（In circuit
Testing）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试时可
在CRT上显示元件管脚连接状态，元件输入管脚的输入波形，同时显示相应输出管脚的实测
波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，
还可识别不明型号的IC。
[ICT]系列检测仪检测更加可靠准确
■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试 ■ 功能测试外供电源稳定可
靠——各种大、中、小型被测电路板皆可测试 ■ 功能测试具有三态识别能力——可测三
态器件和IC负载能力下降故障 ■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线 ■
V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定可靠 ■ V/I测试三种测试电压幅度——确
保各类器件的V/I测试
集成电路在线功能测试
本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、
4000/45000逻辑IC、75系列接口IC各种存储器等千余种集成电路。
1、快速测试：直接显示测试结果，迅速确定可疑IC 2、分析测试：显示全部测试过程，测
试激励。预期和实际响应，帮助分析故障原因 3、器件识别：查找无标记型号IC或同功能
不同型号的IC。
集成电路在线状态测试
通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有故障的IC。
1、状态学习：在线学习无故障IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据
库中
2、状态比较：同故障板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏
3、状态显示：显示存入电脑库中的各IC的状态资料。
集成电路离线功能测试
离线测试IC功能好坏，自动识别未知型号的芯片
IC逻辑图查询
可查阅逻辑电路的逻辑功能图，管脚图及部分参数。
V/I曲线测试
通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC 1、曲线学习：在
线学习无故障板上各节点的动态阻抗曲线（V/I曲线），并存入数据库中 2、曲线比较：同
故障板上相应节点的动态阻抗曲线进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关
的IC是否损坏 3、曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料大
规模集成电路分析测试
网络提取测试
使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采
用了四种模式：
1、探棒对探捧（“棒”—“棒”模式）
2、探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式）
3、测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式）
4、测试夹对测试夹（“夹”—“夹”模式）
开发编译
TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明文件可以通过任何
一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可与相应子测试关联起来，随时用热键查看
相应说明文件。
1、TVED允许两种建立测试图形和方法
a）在TVED图形界面上直接建立 b）读入DCL语言的编译结果
2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形
加以调整、修改。
3、4种测试方式：
a）完整执行一个测试 b）执行一个测试的一部分c）循环执行 d）单步运行
型号 ICT4040P ICT4080P ICT8080P
通道 ICTF: 40thV/I曲线:40th ICTF: 40thV/I曲线: 80th
ICTF: 40×2thV/I曲线: 80th
补充：
ICT4080P/8080P系统功能
·单个器件功能测试 ·IC状态测试 ·VI曲线分析 ·PROM操作 ·LSI在线分析
·数据库整理 ·系统维修日记
·器件端口特征曲线测试·使用原测试软件·TVDE**测试平台·**网络测试
对应于“单个器件功能测试”中的12个功能
MSI在线功能测试 MSI离线功能测试
MSI在线型号识别 MSI离线型号识别
MSI在/离线循环测试 RAM离线完全测试
RAM在线快速测试 RAM在线完全测试
PROM离线空检测 LSI离线功能测试
LSI在线功能测试 LSI离线测试库更新
对应于“PROM操作”中的11个子功能
PROM离线完全学习 PROM离线完全比较
PROM离线学习库内容显示
PROM离线学习库内容转换 PROM在线快速学习
PROM在线快速比较
PROM在线快速显示 PROM在线完全学习
PROM在线完全比较
PROM在线完全学习库内容显示 PROM在线完全学习库内容转换
对应于“VI曲线分析”中的4大功能
VI曲线学习 VI曲线比较
VI曲线显示 双板直接对比
对应于“IC状态测试”中的3大功能
IC状态学习 IC状态比较
IC状态显示
对应于“LSI在线分析”中的3大功能
LSI在线学习 LSI在线比较
LSI在线显示
对应于主框架的17项功能按钮
单个器件功能测试 IC状态测试 VI曲线分析
PROM操作 LSI在线分析 模拟器件直接测试
系统自检 数据库整理 建立系统维修日记文件
原测试软件 TVDE**测试平台 **网络测试
交叠方式排列窗口 非交叠方式排列窗口 分割指定窗口
主界面 进入系统帮助
对应于“模拟器件直接测试”菜单的3大功能
模拟器件直接测试 模拟器件型号识别 添加新器件
热键
·Alt+L 进入“LSI在线分析”界面 ·Alt+M 进入
“数据库整理”界面
·Alt+N 进入“**网络测试”界面 ·Alt+O 进入
原测试软件界面
·Alt+R 进入“PROM操作”界面 ·Alt+S 进入
“IC状态测试”界面
·Alt+T 进入“系统自检”界面 ·Alt+V 进入
“VI曲线分析”界面
·F1 获取帮助 ·Alt+X 退出
本系统
系统运行环境
操作系统 ： Windows 98 或 Windows NT
C P U ： PII 以上
内 存 ： ≥16M
硬盘空间 ： ≥25M
鼠 标 ： 必备，可为任意型号
显 示 ： 1024×768，24位真彩色
电 源 ： 220V/50Hz
